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静电放电对碳纳米管场效应管器件可靠性的影响分析
段赛赛, 杨 洁, 原青云, 张希军
Impact of ESD on Reliability of CNTFET Devices
DUAN Saisai, YANG Jie, YUAN Qingyun, ZHANG Xijun
陆军工程大学学报 . 2026, (5): 69 -75 .  DOI: 10.12018/j .issn.2097-0730.20250821001

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